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<title><![CDATA[wufei6868中金博客存储技术分类文章列表]]></title>
<link><![CDATA[http://blog.cnfol.com/wufei6868]]></link>
<description><![CDATA[http://www.cnfol.com]]></description>
<language>zh-CN</language>
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<title><![CDATA[高速存储器故障的快速排错技术(一)]]></title>
<link><![CDATA[http://blog.cnfol.com/wufei6868/article/1417811.html]]></link>
<description><![CDATA[在图1中值得关注的地方是：S0(片选)偶尔会在 CK0(指令时钟)250ps宽的上升沿中被激发，这可能超出了规定的启动和保持时间(TSETUP/THOLD(TS/TH))。为了准确地检验启动/ 保持时间，我们需要在SDRAM端用高速示波器和探测器探测CK0/CK0#和片选信号。注意任何信号的边际TS/TH都可能导致存储器间歇或永久的故障。]]></description>
<pubDate>Thu, 01 Jan 1970 07:00:00 +0700</pubDate>
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<title><![CDATA[高速存储器故障的快速排错技术(二)]]></title>
<link><![CDATA[http://blog.cnfol.com/wufei6868/article/1417802.html]]></link>
<description><![CDATA[许多存储器技术专家使用本文所介绍的工具和技术对高速存储器系统进行了验证和排错。采用这些省时工具的工程师们也将从中受益?D?D快速排错以及更深入地了解系统性能。]]></description>
<pubDate>Thu, 01 Jan 1970 07:00:00 +0700</pubDate>
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<title><![CDATA[单向双端口SRAM的测试算法]]></title>
<link><![CDATA[http://blog.cnfol.com/wufei6868/article/1416127.html]]></link>
<description><![CDATA[分析了单向双端口SRAM的失效，描述了基于字的队列检测算法，可以有效地检测字间失效、字内失效和同时读写失效，具有失效覆盖率高和测试时间复杂度低的优点。]]></description>
<pubDate>Thu, 01 Jan 1970 07:00:00 +0700</pubDate>
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